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　　专利摘要显示，本发明公开了一种射频前端芯片量产测试方法及基于多Site测试量产板的射频前端芯片批量量产测试方法。该射频前端芯片量产测试方法包括：基于量产测试项目确定射频前端芯片中具备相同量产测试条件的射频通路；基于射频通路的信号输入端口的数量确定每次量产测试的测试通路的数量；基于测试通路的数量和射频通路的数量确定量产测试次数；基于量产测试次数开展射频前端芯片量产测试。本发明通过合并相同测试项相同测试条件下的射频通路，实现同时测试多个测试通路，能够大幅减少了测试准备时间，充分利用测试设备的资源，极大地缩短了整体测试时间，提高生产效率；减少了测试设备的频繁切换和重新配置，降低设备损耗，延长设备使用寿命。